一、操作步驟
　　1．紅外光譜儀開(kāi)機前準備：開(kāi)機前檢查實(shí)驗室電源、溫度和濕度等環(huán)境條件，當電壓穩定，室溫為21±5℃左右，濕度≤65％才能開(kāi)機。
　　2．開(kāi)機：開(kāi)機時(shí)，首先打開(kāi)儀器電源，穩定半小時(shí)，使得儀器能量達到*狀態(tài)。開(kāi)啟電腦，并打開(kāi)儀器操作平臺軟件，運行菜單，檢查儀器穩定性。
　　3．制樣：根據樣品特性以及狀態(tài)，制定相應的制樣方法并制樣。
　　4．掃描和輸出紅外光譜圖：測試紅外光譜圖時(shí)，先掃描空光路背景信號，再掃描樣品文件信號，經(jīng)傅立葉變換得到樣品紅外光譜圖。
　　5．關(guān)機
　?。?）關(guān)機時(shí)，先關(guān)閉軟件，再關(guān)閉儀器電源，zui后關(guān)閉計算機并蓋上儀器防塵罩。
　?。?）在記錄本記錄使用情況。
　　二、紅外光譜儀操作注意事項
　　1．測定時(shí)實(shí)驗室的溫度應在15～30℃，所用的電源應配備有穩壓裝置。
　　2．為防止儀器受潮而影響使用壽命，紅外實(shí)驗室應保持干燥。
　　3．樣品的研磨要在紅外燈下進(jìn)行，防止樣品吸水。
　　4．壓片用的模具用后應立即把各部分擦干凈，必要時(shí)用水清洗干凈并擦干，置干燥器中保存，以免銹蝕。
　　5．采樣器使用須注意幾點(diǎn)：
　?。?）樣品與Ge晶體間必須緊密接觸，不留縫隙。否則紅外光射到空氣層就發(fā)生衰減全反射，不進(jìn)入樣品層。
　?。?）對于熱、燙、冰冷、強腐蝕性的樣品不能直接置于晶體上進(jìn)行測定，以免Ge晶體裂痕和腐蝕。
　?。?）尖、硬且表面粗糙的樣品不適合用OMNI采樣器采樣，因為這些樣品極易刮傷晶片，甚至使其碎裂。